技術チーム · Kintek Solution

蛍光X線分析法（XRF）は、元素分析に用いられる非破壊分析技術です。試料を高エネルギーX線で励起し、試料中の原子にエネルギーを吸収させ、その後、各元素に固有の特定のエネルギーレベルで蛍光X線として放出させる。この蛍光のエネルギーと強度を測定することにより、試料の元素組成を決定することができる。蛍光X線分析法は、地質学、鉱業、環境科学、材料科学、製薬、冶金、食品産業など、さまざまな分野で広く利用されています。

詳しい説明

1. 試料の励起

2. 蛍光X線分析は、試料の励起から始まります。これは、試料に高エネルギーX線を照射することで実現します。このX線のエネルギーは、試料中の原子の内殻電子を放出させるのに十分です。蛍光放射線の放出：

3. 電子が放出されると、原子は励起状態になる。安定状態に戻るには、高いエネルギー準位にある電子が、空いた低いエネルギー準位に落ちる。この準位間のエネルギー差が蛍光X線として放出される。各元素には固有のエネルギー準位があり、その結果、放出される放射線のパターンも固有のものとなる。

4. 測定と分析

5. 放出された蛍光X線は、蛍光X線スペクトロメーターで測定されます。各元素は特定のエネルギーレベルで放射線を放出するため、放射線のエネルギーを分析し、試料に含まれる元素を特定します。放射線の強度は試料中の元素濃度に比例するため、元素の定量が可能です。試料の前処理

正確な結果を得るためには、適切な試料調製が重要です。一般的な方法としては、試料をホモジナイズして微粉末にし、プレスしてペレット状にするプレスドペレット法がある。この方法は、その効率性、費用対効果、高品質の結果を出す能力から好まれている。