元素分析の標準は蛍光X線（XRF）です。蛍光X線分析法は、最小限のサンプル前処理で精密な分析を可能にする技術です。多くの産業において、元素組成分析の「ゴールドスタンダード」となっています。XRFは特に固体、粉体、スラリー、フィルター、オイルの分析に適しています。
蛍光X線分析では、バルク材料に含まれる元素を非破壊で同定・定量することができます。この方法では、材料の最表層から少量のサンプルを抽出するか、バルク製品の断片を採取して微粉末として均質化します。その後、卓上型蛍光X線分析装置を使用してサンプルの構成要素を測定し、バルク材料の相対データを作成します。
光学発光分光分析（OES）やレーザー誘起ブレークダウン分光分析（LIBS）などの代替ツールと比較して、蛍光X線分析では分析能力が高く、ワークピースに目に見える傷を残しません。OESとLIBSは、大がかりなサンプル前処理なしでワークピースの元素分析を直接行うことができますが、XRF分光法に比べて分析能力に限界があります。
蛍光X線分析で最適な結果を得るためには、プラチナ製実験器具、高性能融解炉、化学専用の鋳型など、いくつかの実験器具が必要です。このように実験器具を丹念に使用することで、非破壊で最も正確な試料の定量・定性分析が可能になります。
蛍光X線分析用の試料を調製する場合、一般的にプレスしたペレットが使用されます。これらのペレットは、粉砕と圧縮により、空隙がなく試料の希釈が少ない、より均質な試料を作成するため、ルースパウダーよりも優れた分析結果が得られます。プレスペレットはppm範囲の元素の分析に優れており、調製が比較的簡単で安価です。
重元素と軽元素の分析において、プレスされたペレットはルースパウダーと比較して高いS/N比を示す。このため、最も軽い元素はバックグラウンドよりも容易に検出される。さらに、ペレットには薄膜がないため、測定は真空下で行われ、軽元素の検出がさらに向上します。
粒子径は、最良の分析結果をもたらすペレットを製造する上で重要な要素です。試料は75µm未満の粒子径に粉砕する必要があり、50µm未満が理想的です。粒子径が小さいと、試料を押したときに圧縮され、適切に結合します。粒子径が大きかったりばらついたりすると、試料が不均一になり、分析の精度に影響します。
全体的に、プレスペレットを用いた蛍光X線分析法は、非破壊性、正確な定量、重元素と軽元素の両方を効果的に検出できる能力により、元素分析の標準となっています。
元素分析のゴールドスタンダードであるKINTEKの最先端XRF装置で、ラボをアップグレードしてください。KINTEKの非破壊分析技術は精密で正確な結果を提供するため、世界中の産業で選ばれています。サンプル前処理が最小限で済む当社の蛍光X線分析装置は、固体、粉体、スラリー、フィルター、オイルの分析に最適です。限られた分析能力で満足することなく、最先端の元素分析技術でKINTEKをお選びください。今すぐラボをアップグレードして、その違いを実感してください。
