XRF（蛍光X線）分光法は、物質の元素組成を測定するために用いられる分析法である。高エネルギーX線を試料に照射すると、試料中の原子が励起され、二次的な蛍光X線を放出する。各元素は固有の蛍光X線スペクトルを放出するため、試料に含まれる元素の同定と定量が可能になります。
蛍光X線分析のメカニズム：
プロセスは、X線源と検出器で構成されるXRFスペクトロメーターから始まります。X線源は、試料に向けてX線を発生させます。試料との相互作用により、X線は原子を励起し、二次X線を放出する。放出されたX線は検出器で捕捉され、検出器がデータを処理してスペクトルを生成します。このスペクトルには、試料に含まれる元素に対応するピークが表示され、各ピークの高さがそれぞれの元素の量を示します。元素範囲と検出
蛍光X線分析では、ナトリウム（Na）からウラン（U）までの元素を分析できます。各元素の検出レベルは、励起電子が移動できる軌道の有無によって異なります。この検出レベルのばらつきは、各元素の固有の電子配置によるもので、蛍光を発するエネルギーレベルに影響します。
試料の前処理
蛍光X線分析で正確な結果を得るには、効果的な試料前処理が不可欠です。一般的な方法には、油圧プレスを使用して試料をペレット状に成形するプレスドペレット法があります。この方法は、サンプルの完全性を維持し、高品質の結果を得ることができ、比較的迅速で費用対効果が高いことから好まれています。その他の前処理法は、分析に必要な特定の要件に基づき、望ましい結果の質、必要な労力、関連するコストなどの要因のバランスを考慮して選択することができる。
サンプル前処理の用途と重要性：
