知識 蛍光X線分析試料はどのように調製されますか?正確な分析のためのテクニックをマスターする
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技術チーム · Kintek Solution

更新しました 3 days ago

蛍光X線分析試料はどのように調製されますか?正確な分析のためのテクニックをマスターする

XRF (蛍光 X 線) サンプルの前処理は、正確で信頼性の高い結果を確保するための重要なステップです。プロセスは、固体、粉末、バルク物質などのサンプルの種類に応じて異なります。固体サンプルは、多くの場合、圧縮ペレットまたは溶融ビーズとして調製されますが、粉末サンプルは直接測定または圧縮できます。適切な前処理により、平らできれいな均質な表面が確保され、これは正確な XRF 分析に不可欠です。一般的な技術には、研削、研磨、結合剤やフラックスの使用などが含まれます。適切な準備を怠ると不正確な測定につながる可能性があり、このステップの重要性が強調されます。

重要なポイントの説明:

蛍光X線分析試料はどのように調製されますか?正確な分析のためのテクニックをマスターする
  1. XRF サンプル前処理の種類:

    • プレスペレット: この方法では、サンプルを細かい粒径 (<75 µm) に粉砕し、ダイセットを使用してペレットにプレスします。サンプルに自然な結合特性が欠けている場合は、ワックス結合剤を追加できます。この手法は、そのシンプルさと有効性から広く使用されています。
    • 溶融ビーズ: この方法では、サンプルをフラックスと混合し、高温に加熱して均質なガラスビーズを作成します。この手法は均一性を達成する点では優れていますが、微量元素が希釈される可能性があるため、微量分析にはあまり適していません。
    • 直接測定: 粉末サンプルの場合、最も簡単な方法は直接測定です。サンプルは均質性を達成するために細かく粉砕され、キュベットに注がれ、分析のために平らな表面を確保するために水平にされます。
  2. 固体サンプルの表面処理:

    • 金属や合金などの固体サンプルでは、​​正確な XRF 分析のために平らできれいな表面が必要です。これは研磨と洗浄によって実現されます。
    • 研磨: 研削工具 (硬い金属の場合) や旋盤 (柔らかい金属の場合) などの工具を使用して、滑らかな表面を作成します。
    • クリーニング: 表面はやすりで掃除する必要があり、相互汚染を避けるためにサンプルの種類ごとに別のやすりを使用する必要があります。
  3. サンプルの均一性の重要性:

    • 正確な XRF 測定には均一性が重要です。バルクサンプルの場合、サンプルを均一にするために徹底的な粉砕と粉砕が必要です。
    • XRF ビームはサンプルのさまざまな部分と異なる相互作用をする可能性があるため、サンプルが不均質であると、結果が一貫性を失う可能性があります。
  4. 一般的なテクニックとツール:

    • 粉末圧縮 :これには、プラスチックリング圧縮、ホウ酸リムプライミング圧縮、またはスチールリング圧縮などの方法を使用して、粉末サンプルを固体の形に圧縮することが含まれます。
    • フラックスフュージョン: 溶融ビーズの作成に使用されるこの技術には、サンプルとフラックスを混合し、高温に加熱することが含まれます。均質なガラス状サンプルを得るのに特に役立ちます。
    • 研削・研磨工具: 固体サンプルの準備に不可欠なこれらのツールは、表面が滑らかで汚染物質がないことを保証します。
  5. 汚染の回避:

    • 汚染は XRF 結果の精度に大きな影響を与える可能性があります。これを防ぐには:
      • サンプルの種類ごとに別のツール (ヤスリ、研削ツールなど) を使用します。
      • 使用前にすべての機器が清潔であることを確認してください。
      • 準備中にサンプルを混合しないでください。
  6. 不適切な準備の影響:

    • サンプル前処理が正しくないと、完全に不正確な結果が得られる可能性があります。 XRF は高速法であると考えられていますが、適切な準備手順を無視すると、分析の品質が損なわれる可能性があります。
    • 一般的な問題には、不均一な表面、汚染、不均質などが含まれ、これらはすべて XRF 測定を歪める可能性があります。
  7. バルクサンプルに関する特別な考慮事項:

    • バルクサンプルは均一性を確保するために特別な取り扱いが必要です。専用のキュベットで測定し、均一な粒子サイズを達成するために慎重に粉砕する必要があります。
    • 適切な準備により、XRF ビームがサンプルと一貫して相互作用し、信頼性の高い結果が得られます。

これらの準備方法と考慮事項に従うことで、ユーザーは、固体サンプル、粉末サンプル、バルクサンプルのいずれを扱う場合でも、正確で信頼性の高い XRF 分析を保証できます。適切な準備を行うと、測定精度が向上するだけでなく、汚染や損傷のリスクが軽減され、XRF 装置の寿命が延びます。

概要表:

準備方法 説明 最適な用途
プレスペレット サンプルを 75 µm 未満に粉砕し、ダイセットでプレスしてペレットにします。オプションのワックスバインダー。 固体および粉末サンプル
溶融ビーズ サンプルをフラックスと混合し、加熱して均質なガラスビーズを作成します。 均一なサンプル、少ない痕跡
直接測定 細かく粉砕し、キュベットに注ぎ、平らな表面になるように水平にします。 粉末サンプル
研磨と洗浄 滑らかな表面を得るには、研削工具または旋盤を使用します。汚染を避けるために清潔にしてください。 固体サンプル(金属)
粉末圧縮 さまざまな技術を使用して、粉末サンプルを固体の形に圧縮します。 粉末サンプル

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