FTIR(フーリエ変換赤外分光法)では、以下の手順で試料分析を行います：
1.試料の前処理：分析する試料は通常、細かく粉砕する。固体サンプルの場合、少量の粉末を赤外線に透明な臭化カリウム（KBr）粉末と混合する。この混合物を油圧プレスで固形ペレットにする。このペレットには、重量比でわずかな割合（通常1％）の試料が含まれている。
2.試料の配置：準備された試料ペレットは、赤外線（IR）源の経路にあるホルダーに置かれます。このホルダーにより、試料が分析のために正しく配置されます。
3.IR光源：赤外光源は赤外光を放射し、試料に照射する。光はサンプルを通過し、分子構造と相互作用する。
4.干渉計：赤外ビームは部分的に銀化されたミラーを通過し、強度が等しい2つのビームに分割される。一方のビームはサンプルビームと呼ばれ、サンプルを透過し、もう一方はリファレンスビームと呼ばれ、サンプルを迂回する。
5.干渉パターン：2つのビームは再結合し、干渉パターンを形成する。この干渉パターンは、赤外光と試料の分子構造との相互作用の結果です。干渉パターンには、試料の化学結合や振動に関する情報が含まれています。
6.検出器：ディテクターは、干渉パターンによって生成されたアナログ信号を読み取り、デジタルスペクトルに変換する。検出器は、異なる周波数における光の強度を測定する。
7.スペクトル分析：デジタルスペクトルは、コンピュータを使って分析される。コンピュータはスペクトル中のピークを特定し、そのピークは試料中の特定の化学結合や振動に対応する。コンピュータは試料のスペクトルをデータベース内の既知のスペクトルと比較し、試料の組成と特性を特定する。
FTIR分析では、試料に赤外光を照射し、干渉計で干渉パターンを作り、得られたスペクトルを分析して試料中の化学結合や振動を特定します。サンプルの前処理、サンプルの配置、赤外光源、干渉計、検出器、スペクトル分析がFTIR分析プロセスの重要な構成要素です。
KINTEKでFTIR分析の威力を実感してください！KINTEKの高度なラボ装置は、試料中の化学結合や振動を特定するための正確で信頼性の高い結果を提供します。拡散反射や減衰全反射など様々な測定方法で、様々な試料形態に対応します。正確な分析のためにKINTEKを信頼し、あなたの研究を新たな高みへと導いてください。お気軽にお問い合わせください！
