XRF分光法は元素分析に使用されます。非破壊で物質の元素組成を測定することができます。
この技術は、試料にX線を照射し、その結果生じる蛍光放射を測定することで機能する。これにより、元素ごとに固有のスペクトルが得られます。
これにより、試料に含まれる元素の同定が可能になります。
元素分析のための蛍光X線分光法について知っておくべき5つのポイント
1.非破壊分析
XRF分光法は、発光分光分析法(OES)やレーザー誘起ブレークダウン分光分析法(LIBS)などの代替技術と比較して、いくつかの利点があります。
これらの代替技術は分析能力に限界があり、ワークピースに目に見える傷を残す可能性があります。
対照的に、蛍光X線分析法は、プロセス全体を通して試料の完全性を維持します。
2.必須ラボ機器
最適な結果を得るために、蛍光X線分析にはさまざまなラボ機器が必要です。これには、白金製実験器具、高性能融解炉、化学専用の金型などが含まれます。
これらの機器は、サンプルの正確な定量・定性分析を容易にします。
3.代替技術
蛍光X線分析法以外の元素分析法には、溶液中固体ラン法、ケースフィルム法、プレスドペレット法などがある。
これらの手法では、固体試料を非水溶媒に溶解させる、KBrセルまたはNaClセルに試料を付着させる、微粉砕した固体試料を圧縮して透明なペレットにする、などの方法がそれぞれ用いられる。
4.優れた効率
しかし、蛍光X線分析法は、元素分析のための最も効果的なツールの1つであることに変わりはありません。バルク材料中に存在する元素を非破壊で同定・定量でき、迅速で正確な結果が得られます。
5.精度とスピード
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