蛍光X線分析（XRF）は、特にセメント、鉱業、工業鉱物などの産業で化学分析に使用される方法です。蛍光X線分析の精度は、試料の前処理の質に大きく依存します。XRF用サンプルの一般的な前処理方法には、プレスしたペレットを作成する方法があり、その高品質な結果、スピード、低コストにより人気があります。
蛍光X線分析のための試料調製：
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プレスドペレット： この方法では、通常、油圧プレスを使用して、サンプル材料から固体の平らなペレットを作成します。その後、このペレットを蛍光X線分析します。この方法は、簡便性、費用対効果、結果の質の高さから好まれています。
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粉末試料： 粉末試料は多くの場合、均質性を確保するために粉砕され、その後通常ペレットにプレスされます。この方法は、土壌、鉱石、自己触媒のような不均一な物質に有効である。
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液体サンプル： 液体を直接分析する場合もあれば、乾燥させて固体として分析する場合もある。この方法は石油製品の分析で一般的です。
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固体試料： 固体試料の場合、測定に必要なのは平らできれいな表面である。このような試料は、金属、合金、金属くずであることが多い。
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特殊な前処理： 材料や特定の分析要件によっては、特殊な前処理法が使用される場合がある。これには、正確な結果を得るための化学的処理や特殊な取り扱い技術が含まれます。
適切な試料前処理法の選択：
試料調製法の選択は、要求される結果の質、それに伴う労力や複雑さ、コストなど、いくつかの要因に左右される。例えば、ルーチンの品質管理にはシンプルで費用対効果が高いプレスドペレットが理想的ですが、高精度が要求される特殊な分析には、より複雑な方法が必要になる場合があります。
結論として、蛍光X線は比較的簡単な分析手法ですが、正確で信頼性の高い結果を得るための鍵は、綿密なサンプル調製にあります。精度とコスト、時間効率のバランスをとりながら、分析に必要な特定のニーズに合った方法を選択する必要があります。
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