RFスパッタリングは、主にコンピューターや半導体産業で薄膜を形成するために使用される技術である。高周波（RF）エネルギーを使って不活性ガスをイオン化し、正イオンを発生させてターゲット材料に衝突させる。このプロセスは、いくつかの重要な点で直流（DC）スパッタリングとは異なる：
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電圧要件:電圧要件：通常2,000～5,000ボルトで作動する直流スパッタリングに比べ、RFスパッタリングは高電圧（1,012ボルト以上）を必要とする。直流スパッタリングでは電子による直接的なイオン砲撃が行われるのに対し、RFスパッタリングでは運動エネルギーを利用して気体原子から電子を除去するため、このような高電圧が必要となる。
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システム圧力:RFスパッタリングは、DCスパッタリング（100 mTorr）よりも低いチャンバー圧力（15 mTorr以下）で作動する。この低圧により、荷電プラズマ粒子とターゲット材料との衝突が減少し、スパッタリングプロセスの効率が向上する。
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成膜パターンとターゲット材料:RFスパッタリングは、特に非導電性または誘電性のターゲット材料に適している。このような材料は電荷を蓄積し、DCスパッタリングではさらなるイオン照射を拒絶し、プロセスを停止させる可能性がある。RFスパッタリングの交流は、ターゲットに蓄積した電荷を中和するのに役立ち、非導電性材料の継続的なスパッタリングを可能にする。
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周波数と動作:RFスパッタリングでは、スパッタリング中のターゲットの放電に必要な1MHz以上の周波数を使用する。この周波数は交流を効果的に利用することができ、一方の半周期では電子がターゲット表面のプラスイオンを中和し、もう一方の半周期ではスパッタされたターゲット原子が基板上に堆積する。
まとめると、RFスパッタリングは、DCスパッタリングよりも高い電圧、低いシステム圧力、交流電流を利用してイオン化と成膜プロセスをより効率的に管理することにより、特に非導電性材料に薄膜を成膜するための多用途で効果的な方法である。
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