蛍光X線分析装置は、ナトリウム（Na）からウラン（U）までの元素を検出できます。この検出能力は、X線と試料との相互作用に基づいており、二次X線が放出され、それが分析されて元素組成が決定されます。
詳しい説明
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検出の原理 蛍光X線分析装置は、試料にX線を照射することで動作します。これらのX線は試料中の原子と相互作用し、蛍光放射としても知られる二次X線を放出させます。各元素は固有の蛍光放射パターンを発し、分光計で検出されます。
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元素範囲： 蛍光X線分析で検出可能な元素の範囲は、ナトリウム（原子番号11）からウラン（原子番号92）までです。このような広い範囲が可能なのは、各元素が電子に対して固有のエネルギー準位を持っているからです。一次X線が電子を励起すると、電子はより高いエネルギー準位に移動し、後退すると、存在する元素に対応する特定のエネルギーでX線を放出します。
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蛍光X線分析装置の種類
- エネルギー分散型蛍光X線分析（ED-XRF）： よりシンプルで、複数の元素から同時に信号を収集することができます。分解能は150eV～600eV。
- 波長分散型XRF（WD-XRF）： より複雑で高価だが、5eV～20eVの高い分解能を持つ。ゴニオメーターを使用して、異なる角度で一度に1つの信号を収集します。
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用途 蛍光X線分析装置は、鉱物探査、地球化学試験、鉱石品位管理、希土類元素や工業鉱物の分析など、さまざまな分野で使用されています。特に、鉱業や加工産業における意思決定に重要な元素組成の現場でのリアルタイム評価に有用です。
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非破壊分析： XRFの大きな利点の1つは、非破壊分析が可能なことです。これは、少量のサンプルまたはバルク材料の断片を、材料の完全性を変えることなく分析できることを意味し、さまざまな産業における品質管理や研究に理想的です。
まとめると、XRFスペクトロメーターは、NaからUまでの幅広い元素を検出できる元素分析の汎用ツールであり、その精度と非破壊能力のために、多様な産業で使用されています。
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