提供された参考文献に記載されている3つの試料調製技術は以下の通りである：
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蛍光X線分析のための希釈技術との融合
- 概要 この技術では、元素間の影響や自己吸収を減らすために、ナトリウムやリチウムの四ホウ酸塩や炭酸塩などの融合手段で試料を希釈します。
- 説明 蛍光X線（XRF）分析では、試料を四ホウ酸ナトリウムや炭酸リチウムなどの融合剤と混合する融合技術が重要です。このプロセスにより、試料は通常1:3～1:20の比率で希釈され、元素間の影響や自己吸収を最小限に抑え、分析精度を向上させることができます。融合剤の選択は、試料の組成と分析対象元素によって異なります。
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SEM分析のためのコーティング技術
- 概要 走査型電子顕微鏡（SEM）分析では、電荷の蓄積を防ぐために試料を導電性材料でコーティングすることがよくあります。
- 解説 SEM分析では、電気絶縁性の試料を炭素、金、その他の金属などの導電性材料の薄い層でコーティングする。このコーティングは、電子ビーム走査中に電荷が蓄積し、画像や分析が歪むのを防ぐために不可欠です。コーティング材料の選択は、元素組成（元素分析のためのカーボン）や高分解能イメージング（金属コーティング）など、分析の特定の要件によって異なります。
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赤外分光法のマル技法
- 概要 マル技法は、赤外分光法において、マル剤で厚いペーストを作ることによって固体試料を調製するために使用される。
- 説明 細かく砕いた試料をヌジョール（膨潤剤）と混ぜて厚いペースト状にする。このペーストを塩の板に広げて分析する。この方法は、試料を十分に分散させ、正確なスペクトル分析に必要な赤外放射に対して透明であることを保証するので効果的である。
これらのテクニックは、正確で信頼性の高い結果を得るための最適な条件を確保するために、使用する分析手法に応じて試料調製法を調整することの重要性を浮き彫りにしています。
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