サンプルの前処理は、正確で信頼性の高い分析結果を得るための重要なステップです。ここでは、様々な分析法で使用される3つの必須テクニックを紹介する：
1.蛍光X線分析における希釈技術との融合
概要 このテクニックでは、元素間の影響や自己吸収を減らすために、ナトリウムやリチウムの四ホウ酸塩や炭酸塩などの融合手段で試料を希釈します。
説明 蛍光X線（XRF）分析には、融合技術が不可欠です。試料は、四ホウ酸ナトリウムや炭酸リチウムのような融合剤と混合されます。この過程で試料は希釈され、通常1:3～1:20の比率で希釈されます。これにより、元素間の影響や自己吸収を最小限に抑え、分析の精度を高めることができます。融合剤の選択は、試料の組成と分析対象元素によって異なります。
2.SEM分析のためのコーティング技術
概要 走査型電子顕微鏡（SEM）分析では、電荷の蓄積を防ぐために試料を導電性材料でコーティングすることが多い。
説明 SEM分析では、電気絶縁性の試料を炭素、金、その他の金属などの導電性材料の薄い層でコーティングする。このコーティングは、電子ビーム走査中に電荷が蓄積し、画像や分析が歪むのを防ぐために不可欠です。コーティング材の選択は、元素組成（元素分析の場合はカーボン）や高分解能イメージング（金属コーティング）など、分析の具体的な要件によって異なる。
3.赤外分光法のマル技法
概要 マル技法は、赤外分光法において、マル剤で厚いペーストを作ることによって固体試料を調製するために使用される。
説明 赤外分光法では、Mull法を用いて固体試料を調製する。細かく砕いた試料をNujol（膨潤剤）と混ぜて厚いペースト状にする。このペーストを塩プレートに広げて分析する。この方法は、試料を十分に分散させ、正確なスペクトル分析に必要な赤外放射に対して透明であることを保証するので効果的である。
これらの技術は、正確で信頼できる結果を得るために最適な条件を確保し、使用する分析技術に応じて試料調製法を調整することの重要性を強調している。
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