最も一般的な元素分析技術には、蛍光X線分析法（XRF）、発光分光分析法（OES）、レーザー誘起ブレークダウン分光分析法（LIBS）などがあります。これらの手法にはそれぞれ独自の利点と用途があり、さまざまな分析ニーズに適しています。
蛍光X線分析（XRF）：
蛍光X線分析（XRF）は、物質の元素組成を測定するために使用される非破壊分析技術です。試料に高エネルギーのX線を照射することで、試料中の原子が励起され、二次（または蛍光）X線を放出します。これらの放出されたX線は、試料中に存在する元素の特徴であり、元素の同定と定量を可能にする。XRFは、さまざまな物質や元素を分析できるため、地質学、冶金学、環境科学などさまざまな分野で広く利用されています。発光分光分析（OES）：
OESも元素分析に使われる手法のひとつで、特に金属や合金に有効である。熱または電気アークによって試料中の原子を励起し、存在する元素に特徴的な波長で発光させる。その後、光はプリズムや回折格子によって分散され、各波長の強度を測定して各元素の濃度を決定する。OESは特に低濃度の元素を検出するのに有効で、製造業の品質管理や工程管理によく使用される。
レーザー誘起ブレークダウン分光分析（LIBS）：
LIBSは比較的新しい技術で、高出力レーザーパルスを使用してサンプル表面から少量の物質をアブレーションし、プラズマプルームを生成する。このプラズマから放出される光を分析し、試料の元素組成を決定する。LIBSは、大がかりな試料前処理を必要とせず、固体、液体、気体を分析できる点で有利である。LIBSは、その可搬性と迅速な分析能力から、採鉱や環境モニタリングなどのフィールド・アプリケーションでよく使用される。
