塗膜の厚みを計算することは、塗膜の品質と耐久性を確保するために不可欠です。
そのためには、コーティングの種類、基材の材質、適切な測定方法を考慮する必要があります。
磁気、渦電流、超音波、蛍光X線（XRF）など、さまざまな手法があります。
各手法には原理と用途があり、さまざまな条件下で正確な測定が可能です。
膜厚の計算方法：6つの重要な方法を解説
1.磁気測定法
磁気吸引原理:この方法は、永久磁石プローブの吸引力と磁性スチールまでの距離の比例関係を利用します。この距離が膜厚を表す。
磁気誘導原理:コーティングを通過して鉄の下地に入る磁束を測定します。コーティングが厚いと磁束が少なくなり、誘導起電力に影響する。
2.渦電流測定法
この方法は、導電性金属上の非導電性層に適用される。導電性基材に渦電流を発生させ、塗膜と相互作用させて厚さを測定する。
3.超音波測定法
この方法は様々な材料に適しており、パイプラインや圧力容器の腐食を監視することができる。超音波パルスが塗膜を通過し、反射して戻ってくるまでの時間を測定する。
4.蛍光X線（XRF）測定法
蛍光X線は、0.001μmから50μmまでの金属や合金の皮膜に有効です。金属、ポリマー、セラミック、ガラスなど、さまざまな基材で測定できます。
ベンチトップとハンドヘルドの比較:ベンチトップ型は精度が高く、複雑な多層コーティングに適しています。一方、ハンドヘルド型は携帯性に優れ、大型部品に適しています。
5.干渉スペクトル法
この方法は、透明または薄膜に使用されます。干渉スペクトルの山と谷の数から膜厚を算出します。表面粗さが精度に影響することがあります。
6.マイクロメーター法
この方法では、コーティングあり、なしの2回の測定を行う。高さの変化の差が膜厚を示します。この方法は、表面が粗い場合に特に有効です。
それぞれの方法には利点と限界がある。どの方法を選択するかは、塗膜や基材に特有の要件や、希望する精度や利便性によって決まります。
これらの方法を理解することで、正確な膜厚測定に最適なツールを選択することができます。
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