知識 XRFとXRD技術の違いとは?適切な分析ツールの選び方ガイド
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技術チーム · Kintek Solution

更新しました 1 week ago

XRFとXRD技術の違いとは?適切な分析ツールの選び方ガイド

根本的に、X線蛍光(XRF)とX線回折(XRD)は、材料について根本的に異なる2つの問いに答えます。XRFは存在する化学元素とその相対量を特定するのに対し、XRDは結晶構造、つまり原子が特定の化合物や相にどのように配列しているかを特定します。

最も簡単な区別方法は、XRFは材料が「何でできているか」(元素成分)を特定するものであり、XRDはその「材料がどのように組み合わされているか」(結晶構造または相)を特定するものだと考えることです。

XRFが示すもの:元素のレシピ

X線蛍光(XRF)は、元素分析に使用される非破壊技術です。これは、サンプルを高エネルギーの一次X線を照射することによって機能します。

基本原理

一次X線がサンプル中の原子に当たると、内殻の電子を叩き出して追い出すことがあります。これにより不安定な空孔が生じ、これはすぐに高エネルギーの外殻の電子によって埋められます。

この電子が空孔に「落下」する際、二次的な「蛍光」X線を放出します。この蛍光X線のエネルギーは、それが由来する元素に固有のものであり、元素の指紋のように機能します。

出力:元素のリスト

XRF検出器は、サンプルから放出されるすべての蛍光X線のエネルギーと強度を測定します。

これにより、どの元素が存在するか(例:鉄、銅、ニッケル、亜鉛)と、強度の測定によってそのおおよその濃度を示すスペクトルが得られます。これは本質的に、材料の元素部品リストを提供するものです。

XRFの一般的な用途

  • 合金識別: 金属のグレードと組成を迅速に確認する。
  • 品質管理: 原材料が元素仕様を満たしていることを確認する。
  • 環境スクリーニング: 土壌中の鉛やヒ素などの重金属汚染を検査する。
  • 芸術・考古学: 損傷を与えることなく顔料や人工物の元素組成を分析する。

XRDが示すもの:結晶の設計図

X線回折(XRD)は、結晶性材料の原子および分子構造を決定するために使用される技術です。これは主に元素を特定するものではありません。

基本原理

XRDは、X線ビームをサンプルに向け、ビームが散乱または「回折」する角度を測定することによって機能します。これが起こるためには、材料は結晶性である必要があり、原子が規則的で繰り返しの格子状に配列されていることを意味します。

この回折は、散乱されたX線が建設的に干渉する特定の角度でのみ発生し、これはブラッグの法則によって記述される現象です。この角度は、結晶格子内の原子面間の間隔に直接関連しています。

出力:構造の指紋

XRDスキャンの結果は回折パターンであり、X線強度を回折角に対してプロットしたものです。このパターンは、特定の結晶構造の固有の指紋です。

例えば、ダイヤモンドもグラファイトも純粋な炭素です(XRFでは単に「炭素」と表示されます)。しかし、それらの原子の配列が全く異なる結晶構造であるため、XRDパターンは全く異なります。XRDはその違いを識別し、一方を「ダイヤモンド」として、もう一方を「グラファイト」として特定できます。

XRDの一般的な用途

  • 鉱物学: 岩石サンプル中に存在する特定の鉱物を識別する。
  • 医薬品: 同じ薬物の異なる結晶形である多形(ポリモルフ)を区別する(生物学的利用能が異なる場合があるため)。
  • 材料科学: 合成材料、セラミック、またはポリマー中に存在する結晶相を決定する。
  • 破壊解析: 故障した部品における腐食生成物や予期せぬ相を特定する。

トレードオフの理解

どちらの技術も万能ではありません。その価値は、答える必要がある質問に完全に依存します。それらを効果的に使用するには、それらの限界を理解することが鍵となります。

XRFの限界

XRFは、非常に軽い元素(通常、ナトリウム(Na)よりも軽い元素)、例えば炭素、酸素、窒素、リチウムの検出には非常に不向きです。また、主に表面感応型技術であるため、サンプルが均一でない場合、バルク組成が異なる可能性があります。

XRDの限界

XRDの最大の限界は、結晶性サンプルが必要であることです。ガラスや多くのポリマーのような非晶質材料は、回折に必要な秩序だった原子構造を持たず、明確なパターンを生成しません。さらに、複数の結晶相が混在する複雑な混合物の分析は困難な場合があります。

両方を使用する力

XRFとXRDは、組み合わせて使用​​すると非常に強力です。XRFはサンプルにケイ素と酸素が含まれていることを示すことができ、XRDはそのSiO₂が結晶性石英、クリストバライトとして存在するか、あるいは非晶質のシリカガラス(ガラス)であるかを特定できます。

目的に合った正しい選択をする

正しい方法を選択するには、まず分析目標を定義する必要があります。

  • 主な焦点が元素の検証である場合: XRFを使用して合金の元素組成を確認したり、制限された重金属をチェックしたり、主要元素を定量化したりします。
  • 主な焦点が構造識別である場合: XRDを使用して特定の鉱物や化合物を識別したり、望ましくない結晶相を確認したり、合成材料の構造を確認したりします。
  • 主な焦点が完全な特性評価である場合: 両方を使用します。まずXRFで元素組成を取得し、次にXRDでそれらの元素が構造的にどのように結合しているかを理解します。

正しいツールの選択は、材料について正しい質問をすることから始まります。

要約表:

技術 答える質問 原理 最適な用途
XRF 存在するの元素か? サンプルからの蛍光X線を測定する。 元素組成、合金ID、品質管理。
XRD 原子はどのように配列されているか? 結晶格子からの回折角度を測定する。 結晶相、鉱物、多形の識別。

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