蛍光X線分析（XRF）とX線回折（XRD）技術の違いを理解することは、材料分析に携わる者にとって非常に重要です。
この2つの技術は、材料に関する異なるタイプの情報を収集するために使用され、それぞれに独自の用途と利点があります。
XRFとXRD技術の違いを理解するための5つのポイント
1.操作方法
XRFは、試料にX線を照射し、蛍光放射線を放出させます。
一方、XRDは、ブラッグの法則に基づき、X線を利用して物質の結晶構造を分析する。
2.提供される情報の種類
XRFは主に物質の元素組成の決定に使用される。
XRDは、材料の結晶構造の評価に使用される。
3.アプリケーション
XRFは非破壊でバルク材料の分析が可能であるため、金属合金の品質管理、ガソリン中の硫黄の分析、プラスチックや電子機器中の重金属の検出などに適しています。
XRDは、材料内の原子配置の秩序や無秩序の程度を調べるのに特に有用であり、表面に敏感な分析に適応できるため、薄膜やその他のナノ構造材料の特性評価に適している。
4.試料の前処理
XRFの試料調製では、試料の完全性を維持するために、油圧プレスを使用して一般的な試料ペレットを作成することがよくあります。
XRDでは、試料が分析可能な形状であることを確認するだけで、一般的に大規模な試料調製は必要ありません。
5.適応性
XRFは汎用性が高く、さまざまな材料や形状に適用できます。
XRDは、微小角入射技術（GIXRD）を使用して表面敏感分析に適合させることができ、ナノメートルスケールの構造分析に適しています。
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