蛍光X線（XRF）分析は、材料の元素組成を決定するための強力なツールです。しかし、その過程でいくつかの誤差が生じ、結果の精度に大きな影響を与えることがあります。
1.試料調製におけるコンタミネーション
コンタミネーションは、蛍光X線分析における主なエラーの1つです。多くの場合、試料調製の研磨工程で発生します。試料前処理装置からの外部成分が不注意で試料に混入し、不正確な結果につながることがあります。
2.試料間の交差汚染
交差汚染は、さまざまな種類のサンプルを分析する場合に特に問題となります。同じ装置を複数のサンプルに使用し、その間に適切な洗浄を行わなかった場合、異なるサンプルの元素が混ざり合い、分析されるサンプルの実際の組成が歪んでしまう可能性があります。
3.校正標準試料とルーチン試料の一貫性のない調製
蛍光X線分析の精度は、認証標準物質を使用した装置の校正に大きく依存しています。校正標準試料とルーチン試料が同じ方法で調製されていない場合、検量線に誤差が生じ、分析の精度に影響を及ぼす可能性があります。
4.測定への影響特性X線
蛍光X線分析測定に影響を与える主な影響の1つは、特性波長のX線の放出です。これらのX線は、元素の原子量によって異なる深さの表面原子から放出されます。軽い元素は検出されにくく、試料中の存在を過小評価する可能性があります。
5.測定への影響バックグラウンド散乱
散乱X線の連続的なバックグラウンドは、特性X線の検出を妨害することもあります。これは、データの誤った解釈につながる可能性があり、分析の精度に影響します。
このような誤差を最小限に抑えるには、サンプル前処理に清潔な専用装置を使用すること、二次汚染を防ぐためにサンプル間の洗浄を徹底すること、校正用標準試料とルーチンサンプルの前処理に一貫性を保つことが不可欠です。さらに、蛍光X線分析装置の設定を最適化し、適切な分析技術を使用することで、バックグラウンド散乱の影響を低減し、軽元素の検出を向上させることができます。
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