蛍光X線分析（XRF）技術は、約0.001μmから50μmまでの金属や合金のコーティングを測定することができます。
この技術は、金属、ポリマー、セラミック、ガラスなど、さまざまな基材上の単層および多層コーティングを正確に測定できます。
測定には、卓上型蛍光X線分析装置またはハンドヘルド型蛍光X線分析装置を使用します。
ベンチトップ型とハンドヘルド型のどちらを選択するかは、部品のサイズや特定のアプリケーション要件によって決まります。
4つのポイントを解説XRFメッキの厚さは？
1.XRF測定の膜厚範囲
XRF技術では、0.001μmから50μmまでの厚さのコーティングを測定できます。
この範囲には、非常に薄いコーティングと厚いコーティングの両方が含まれるため、XRFはさまざまな用途に対応できます。
2.蛍光X線分析装置の種類
卓上型蛍光X線分析装置： 小さな部品や大きな部品の特定の領域のコーティングの厚さと組成を測定するために設計されています。
高精度の電動サンプルステージ、調整可能な照明、鮮明な画像を得るためのズーム可能なカメラで構成できます。
ハンドヘルド蛍光X線分析装置： 携帯性に優れ、卓上試料室に入らない大型部品の測定に適しています。
稼働中の検査やサプライチェーンのモニタリングに最適です。
3.アパーチャー技術
コリメーターとキャピラリー光学系： コリメータとキャピラリ光学系：卓上型蛍光X線分析装置では、X線ビームのサイズを制限するために使用されます。
コリメータとキャピラリー光学系のどちらを選択するかは、部品のサイズとコーティングの厚さによって決まります。
4.膜厚が測定に与える影響
コーティングが薄い場合は、電気メッキ材料と基材の両方を正確に測定することができます。
しかし、コーティングの厚みが増すと、コーティングによってX線が減衰するため、下地の強度が低下する。
表面の粗さは、蛍光X線測定の精度に影響を与えます。
モーター駆動のサンプルステージを備えた卓上型蛍光X線分析装置は、エリアをスキャンして平均膜厚値を提供できるため、表面に凹凸のあるサンプルに特に有効です。
校正用標準試料： 薄膜標準試料とモノリシック標準試料の両方が、用途に応じて使用されます。
薄膜標準試料は柔軟性があり、モノリシック標準試料は堅牢で実際の部品によく似ています。
機器の認証： XRF装置は、正確で信頼できる測定を保証するために、毎年校正する必要があります。
これには、分析コンポーネント、電子機器、機械部品の検査が含まれます。
サンプルの集束： X線管、サンプル、検出器間の距離を一定に保つためには、適切な焦点合わせが重要です。
焦点合わせを誤ると、不正確な測定につながることがあります。
部品の配置： 部品の向きは測定結果に影響を与えます。
適切なアライメントにより、正確なデータ収集が可能になります。
XRF分析では、通常32 mmまたは40 mmの大きな試料面が好まれます。
これにより、測定範囲が広がり、より正確な結果が得られます。
これらの重要なポイントを理解することで、ラボ機器の購入者は、特定のニーズに適した蛍光X線分析装置の選択について十分な情報を得た上で決定することができ、正確で信頼性の高い膜厚測定を確実に行うことができます。
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