XRF（蛍光X線）分析は通常、試料を1～1000 µmの深さまで浸透させます。浸透深度は試料中の元素の原子量に影響され、軽い元素は重い元素に比べて深いレベルでは検出されにくい。これは、分析中に放出される特徴的なX線が、一般的にこれらの深さの表面原子によるものであるためです。異なる深さの元素を検出できるかどうかは、蛍光X線分析装置が受信する信号に影響するため、正確な分析には非常に重要です。高エネルギー元素（一般に原子番号の大きい元素）は、試料中の脱出深度が深いため、低エネルギー元素に比べてより深い層から検出できます。この深さ感度は、蛍光X線分析結果の準備と解釈において重要な要素です。
KINTEK SOLUTIONの蛍光X線分析装置で、比類のない深さ感度を体験してください。地表からコアまで、さまざまな深さの元素を検出できるように設計された最新鋭の装置をお届けすることで、ラボの精度と効率を向上させます。正確で包括的な蛍光X線分析に必要なツールを提供し、サンプルの本質的な詳細を明らかにすることを保証するKINTEK SOLUTIONにお任せください。当社の高度な技術がお客様の分析能力をどのように変えることができるかをご覧ください！
