技術チーム · Kintek Solution

蛍光X線分析に最適な粒子径は、通常75 µm未満です。この微細な粒径は、正確で代表的な結果を得るために極めて重要な均一混合を保証します。粒子が細かいほど試料の均一性が向上し、分析に影響を与える空隙や表面の凹凸の可能性が低くなります。

説明

1. 均一性:均一な粒度分布を得ることは、試料が検査対象の材料全体を代表していることを保証するため、蛍光X線分析では不可欠です。サンプルに大きな粒子が含まれていると、材料全体の組成を正確に反映しない可能性があり、分析に誤差が生じる可能性があります。

2. 表面積:粒子径が小さいほど、X線との相互作用に利用できる表面積が大きくなります。この表面積の増加により、より多くの粒子がX線ビームに曝されるため、XRFプロセスの効率が向上し、信号が強くなり、より正確な測定が可能になります。

3. 前処理技術:プレスドペレットや溶融ビーズなど、蛍光X線分析用の一般的な試料調製技術では、試料が適切に付着し、固体で均一なペレットを形成するために、微粉末が必要です。例えば、硬い鉱物を含むことが多い地質試料は、微粉末に粉砕し、結合剤と混合してペレット形成を容易にします。

4. 装置適合性:蛍光X線分析装置では通常、試料を特定のサイズ（直径32 mmまたは40 mmのペレットなど）に調製する必要があります。粒子径が適切であることを確認することは、これらの仕様を満たすサンプルを調製するのに役立ち、蛍光X線装置との適合性を最適化します。

要約すると、75 µm未満の粒子径を維持することは、効果的な蛍光X線分析にとって非常に重要です。これは、試料の均一性をサポートし、表面積を増やしてX線との相互作用を向上させ、蛍光X線分析装置との互換性を確保するための適切な試料調製を容易にするためです。

KINTEK SOLUTIONの微粒子製品は、お客様のラボの厳しい要件を満たすように専門的に設計されています。均質性の向上、表面積の増加、シームレスな装置適合性をご体験ください。蛍光X線分析の世界では、粒子ひとつひとつが重要です。科学的精度の理想的なパートナーであるKINTEK SOLUTIONで、あなたの研究を向上させましょう。