蛍光X線分析を行う場合、最適な粒子径は通常75 µm未満です。
この微細な粒径は、正確で代表的な結果を得るために極めて重要な均質な混合物を保証します。
粒子が微細であればあるほど、試料の均一性が向上し、分析に影響を与える空隙や不均一な表面の可能性が低くなります。
蛍光X線分析の粒度とは？考慮すべき5つのポイント
1.均一性
XRF分析では、均一な粒度分布を達成することが不可欠です。
これにより、サンプルが検査対象の材料全体を代表していることが保証されます。
サンプルに大きな粒子が含まれている場合、材料全体の組成を正確に反映しない可能性があり、分析に誤差が生じる可能性があります。
2.表面積
粒子径が小さいほど、X線との相互作用に利用できる表面積が大きくなります。
この表面積の増加により、XRFプロセスの効率が向上します。
より多くの粒子がX線ビームに曝されるため、信号が強くなり、より正確な測定が可能になります。
3.前処理技術
プレスドペレットや溶融ビーズなど、蛍光X線分析用の一般的な試料調製技術では、微粉末が必要です。
これにより、試料が適切に付着し、強固で均一なペレットが形成されます。
例えば、硬い鉱物を含むことが多い地質試料は、微粉末に粉砕し、結合剤と混合してペレット形成を容易にします。
4.装置の互換性
蛍光X線分析装置では通常、試料を特定のサイズ（直径32 mmまたは40 mmのペレットなど）に調製する必要があります。
粒子径が適切であることを確認することは、これらの仕様に適合するサンプルを調製するのに役立ちます。
これにより、蛍光X線分析装置との互換性が最適化されます。
5.概要
75 µm未満の粒子径を維持することは、効果的な蛍光X線分析に不可欠です。
試料の均一性を維持し、表面積を増やしてX線との相互作用を向上させ、蛍光X線分析装置との互換性を確保するための適切な試料調製を容易にします。
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