蛍光X線分析（XRF）は、材料の元素組成を測定するために使用される非破壊分析技術です。
物質に高エネルギーのX線を照射すると、物質内の原子が励起され、存在する元素に特徴的な特定のエネルギーの二次（または蛍光）X線を放出するという原理に基づいています。
これらの放出されたX線を分析し、物質中の元素とその濃度を特定します。
5つのポイントの説明
1.原子の励起
試料に高エネルギーX線を照射すると、X線のエネルギーが試料中の原子に吸収されます。
このエネルギーは、原子から内殻電子を放出させるのに十分です。
この過程は励起として知られている。
2.蛍光X線の放出
電子が放出された後、原子は不安定な状態になります。
安定状態に戻るには、放出された電子が残した空孔を、より高いエネルギー準位からの電子が埋める。
2つの準位間のエネルギー差は、蛍光X線の形で放出される。
各元素は固有のエネルギー準位を持つため、放出されるX線は試料に含まれる特定の元素に特徴的である。
3.検出と分析
放出された蛍光X線は、蛍光X線分析装置で検出されます。
これらのX線のエネルギーが測定され、各元素は特定のエネルギーでX線を放出するため、試料に含まれる元素を特定することができます。
また、放出されたX線の強度も測定され、これによって試料中の各元素の濃度を決定することができます。
4.非破壊分析
XRFの大きな利点のひとつは、非破壊分析であることです。
つまり、試料を変化させたり破壊したりすることなく分析できるため、貴重な物質や希少な物質には特に有効です。
5.試料の前処理
XRFはサンプルの前処理に関して比較的寛大ですが、それでも正確な結果を得るためには不可欠です。
固体試料は、測定用に平らで清潔な表面を必要とし、粉末試料は、多くの場合、ホモジナイズしてペレット状に押し固めます。
液体サンプルも直接分析できます。
適切な試料前処理を行うことで、X線が試料と均一に相互作用し、信頼性と再現性の高い結果が得られます。
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