技術チーム · Kintek Solution

蛍光X線分析（XRF）は、材料の元素組成を測定するために使用される非破壊分析技術です。物質に高エネルギーのX線を照射すると、物質内の原子が励起され、存在する元素に特徴的な特定のエネルギーの二次（または蛍光）X線を放出するという原理に基づいています。これらの放出されたX線を分析し、物質中の元素とその濃度を特定します。

答えの要約

蛍光X線分析では、試料に高エネルギーのX線を照射することで、試料中の原子が内部の電子を放出します。その後、これらの原子は、特徴的なエネルギーの蛍光X線を放出することによって緩和し、この蛍光X線が検出・分析され、試料中の元素が同定・定量されます。

1. 詳しい説明原子の励起：

2. 試料に高エネルギーX線を照射すると、X線のエネルギーが試料中の原子に吸収される。このエネルギーは、原子から内殻電子を放出させるのに十分です。この過程は励起として知られています。

3. 蛍光X線の放出：

4. 電子が放出された後、原子は不安定な状態になります。安定状態に戻るには、放出された電子が残した空孔を、より高いエネルギー準位からの電子が埋める。2つの準位間のエネルギー差は、蛍光X線の形で放出される。各元素は固有のエネルギー準位を持つため、放出されるX線は試料に含まれる特定の元素に特徴的である。検出と分析

5. 放出された蛍光X線は、蛍光X線分析装置で検出されます。これらのX線のエネルギーが測定され、各元素は特定のエネルギーでX線を放出するため、試料に含まれる元素を特定することができます。また、放出されたX線の強度も測定され、これを使って試料中の各元素の濃度を決定することができます。

非破壊分析：

XRFの大きな利点のひとつは、非破壊分析であることです。つまり、試料を変化させたり破壊したりすることなく分析できるため、貴重な物質や希少な物質に特に有効です。