XRF（蛍光X線）分光法は、ベリリウム（Be）からウラン（U）までの物質の元素組成を特定することができます。この技術は、試料にX線を照射し、試料中の原子が元素に特徴的な二次X線を放出することで機能する。この放出されたX線を検出して分析し、試料中の異なる元素の存在と量を測定します。
詳しい説明
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蛍光X線の原理：
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XRFは、物質が高エネルギーX線に曝されると、物質中の原子が励起され、原子が基底状態に戻る際に二次X線を放出するという原理に基づいて動作します。各元素は、その元素に固有の特定のエネルギーレベルでX線を放出するため、存在する元素の同定と定量が可能になります。技術の進歩
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初期の蛍光X線分析装置は、検出範囲と感度に限界がありました。しかし、改良されたゴニオメーター、カウンター、温度安定性の高いスペクトルチャンバーなどの進歩により、現代の蛍光X線分析装置の精度と正確性は大幅に向上しました。また、人工的に合成された多層膜結晶の開発により、ベリリウム、ホウ素、炭素、窒素、酸素などの軽元素を分析する蛍光X線分析装置の能力も向上しました。
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検出範囲と感度：
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最新の蛍光X線分析装置は、ベリリウム（4Be）からウラン（92U）までの元素を検出でき、検出レベルは10～6%から100%です。各元素の感度と検出限界は、装置の能力と分析の特定の条件によって異なります。アプリケーションと利点
XRFは、材料科学、地質学、その他の分野で、非破壊検査や多元素検出に広く使用されています。特に、金属、合金、セラミックス、ガラスの組成分析、および地球化学的・鉱物学的研究に有用です。XRF分析の非破壊性はサンプルの完全性を維持し、希少または貴重な材料の分析に理想的です。
