蛍光X線分析における誤差は、いくつかの原因から生じる可能性があり、分析結果の精度と信頼性に大きな影響を与えます。
蛍光X線分析におけるエラーとは？(避けるべき5つの一般的な落とし穴)
1.不適切なサンプル前処理
XRF分析には最小限のサンプル前処理が必要ですが、このステップを怠ると不正確な結果につながることがあります。
金属や合金のような固体試料の場合、他の元素による汚染を避けるために、適切な道具を使った徹底的な洗浄が必要です。
触媒や土壌のようなバルクサンプルの場合は、正確な測定に不可欠な均質性を確保するために、慎重な破砕と混合が必要です。
2.不適切な校正
蛍光X線分析装置は、分析に基本パラメータ法を使用しているため、特定の作業用に校正する必要があります。
ある種類の材料（合金など）用に校正された分析器を別の材料（貴金属や土壌など）の分析に使用すると、精度が低下する可能性があります。
分析装置が目的の分析に適した校正値を持っていることを確認することが重要である。
3.保護部品の交換漏れ
検出器を汚染物質から保護する保護ボックスまたはカートリッジは、定期的に交換する必要があります。
以前の測定で付着した汚れや粒子が蓄積すると、新しい測定結果がゆがむことがあります。
交換頻度は分析する試料の種類によって異なり、アルミニウム合金のように残留物が残りやすい材料では、より頻繁な交換が必要です。
4.不十分な測定時間
測定時間は結果の精度に直接影響します。
測定時間が短いと、元素濃度の測定誤差が大きくなり、微量に存在する元素を見逃してしまう可能性があります。
通常、正確な結果を得るためには、10～30秒の測定時間が推奨されます。
5.放射線の安全性
XRF分析装置からはX線が放出され、その強度は低いものの、長時間暴露すると有害になる可能性があります。
オペレーターは、操作中にサンプルを手で持ったり、ビームを他の人に向けたりしないなど、放射線安全プロトコルを遵守する必要があります。
このような操作上のエラーに加え、蛍光X線分析には、検出限界、偽陽性や偽陰性につながるスペクトルの重複、分析試料と化学組成や物理構造が類似した標準試料の必要性など、固有の限界も影響します。
これらの要因から、誤差を最小限に抑え、蛍光X線分析の信頼性を確保するためには、入念な試料前処理と校正が重要であることがわかります。
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