蛍光X線分析は、さまざまな種類のサンプルに対して実施できる汎用性の高い技術です。
正確で信頼性の高い結果を得るためには、試料の種類ごとに特有の前処理方法が必要です。
4つの主なタイプを説明
1.固体試料
金属、合金、スクラップなどの固体試料は、測定のために平らできれいな表面が必要です。
前処理では、表面が分析に適していることを確認します。
蛍光X線分析装置には、エネルギー分散型（ED-XRF）または波長分散型（WD-XRF）があり、必要とされる複雑さと分解能に応じて使用されます。
ED-XRFはシンプルで、複数の元素を同時に分析できます。
WD-XRFは分解能が高いが、より複雑で高価である。
2.粉末試料
粉末試料は、土壌、鉱石、自己触媒のような不均一な材料から得られることが多く、代表的な試料を確保するために粉砕と均質化が必要です。
このプロセスでは通常、材料を粉砕してサイズを小さくし、次いで粉砕して微粉末にする。
この粉末をプレスしてペレットにするか、融解してガラスディスクにし、分析を行う。
この方法により、試料が均一で、元の試料を代表するものとなり、正確な元素分析に不可欠となる。
3.液体試料
石油製品などの液体試料は、直接または適切な容器に入れた後に分析する。
容器は干渉や汚染を防ぐため、蛍光X線分析に適合していなければなりません。
液体サンプルは、蒸発や汚染を防ぐために、フロースルー・セルや密閉容器を使用して分析されることがよくあります。
4.前処理に関する考慮事項
サンプルの前処理方法の選択は、材料と分析要件によって異なります。
必要な精度、かかる労力やコスト、使用する分光計のタイプなどの要因が、最適な前処理法を決定する上で重要な役割を果たします。
特にさまざまな種類のサンプルを分析する環境では、サンプル間の交差汚染が大きな懸念事項となります。
そのため、分析結果の完全性を確保するためには、サンプル前処理時に厳格なプロトコルを維持することが不可欠です。
さらに詳しく、専門家にご相談ください。
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