SEM（走査型電子顕微鏡）用途の金コーティングの一般的な厚さは、2～20 nmです。この極薄の金層は、非導電性または導電性の低い試料に導電性金属を蒸着させるスパッタコーティングと呼ばれるプロセスを用いて塗布される。このコーティングの主な目的は、静電場の蓄積による試料の帯電を防ぎ、二次電子の検出を強化することで、SEMのS/N比と全体的な画質を向上させることである。
金は仕事関数が小さく、コーティング効率が非常に高いため、この種のコーティングに最もよく使用される材料である。冷却スパッタコータを使用すると、金の薄層をスパッタリングする過程で試料表面の加熱が最小限に抑えられる。金コーティングの粒径は、最新のSEMでは高倍率で見ることができ、通常5～10 nmの範囲である。これは、検査中の試料の完全性と可視性を維持するために特に重要である。
金/パラジウム（Au/Pd）による6インチウェーハのコーティングのような特定のアプリケーションでは、3 nmの厚さが使用されました。これは、SC7640スパッターコーターを使用し、800V、12mAの設定で、アルゴンガスと0.004バールの真空を使用して達成された。この薄いコーティングがウェハー全体に均一に分布していることは、その後の試験で確認された。
全体として、SEMアプリケーションにおける金コーティングの厚さは、サンプルの特性を大きく変えることなく最適な性能を確保するために、細心の注意を払って制御されている。特にエネルギー分散型X線分光法（EDX）のような技術を使用する場合、導電性の特性とサンプルの分析への干渉を最小限に抑えることを考慮すると、コーティング材料としての金の選択は戦略的なものです。
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