知識 IR分光法の基本的な装置は何ですか?現代の化学分析のためのFT-IR分光計
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技術チーム · Kintek Solution

更新しました 1 day ago

IR分光法の基本的な装置は何ですか?現代の化学分析のためのFT-IR分光計

現代の赤外(IR)分光法に用いられる基本的な装置は、フーリエ変換赤外(FT-IR)分光計です。この装置は、サンプルの赤外スペクトル全体を同時に捕捉するため、業界および研究室の標準となっています。これは、光の干渉パターンを測定し、そのパターンをフーリエ変換という数学的演算を用いて使用可能なスペクトルにデコードすることで実現されます。

FT-IR分光計の核心は、赤外線ビームを分割し、その一部をサンプルに通し、すべての周波数の光が一度にどのように吸収されるかを測定することです。この並行データ収集が、その速度、感度、精密さの鍵であり、従来の逐次的な方法よりもはるかに優れています。

FT-IR分光計の主要コンポーネント

FT-IR分光計がどのように機能するかを理解するには、その4つの主要コンポーネントを理解することが不可欠です。それぞれが、物理的なサンプルをデジタルスペクトルに変換する上で、明確かつ重要な役割を果たします。

IR光源

プロセスは、広帯域の赤外線放射を発する光源から始まります。これは通常、グローバー(炭化ケイ素)やエバーグロー(独自材料)などのセラミック素子で、電気的に加熱されて赤外線領域で明るく輝き、測定に必要な光を提供します。

干渉計(FT-IRの心臓部)

これは装置の中で最も革新的な部分です。ビームスプリッター、固定ミラー、可動ミラーで構成されています。ビームスプリッターはIRビームを2つに分割し、一方を固定ミラーに、もう一方を可動ミラーに送ります。

2つのビームが反射して戻ってくると、ビームスプリッターで再結合します。可動ミラーが一方のビームの光路長を変えたため、波が互いに干渉します。これにより、すべての周波数情報が一度に含まれる、独特で複雑な信号である干渉図(インターフェログラム)が生成されます。

サンプルコンパートメント

これは、分析するサンプルを配置するシンプルですが重要な領域です。干渉計からの再結合された赤外線ビームがサンプルを通過し、サンプルは化学結合の振動に対応する特定の周波数で光を吸収します。

検出器とコンピューター

重水素化トリグリシン硫酸塩(DTGS)または水銀カドミウムテルル(MCT)検出器などの検出器は、サンプルを通過した光の強度を測定します。これは、光強度と可動ミラーの位置のプロットである干渉図を記録します。

この生信号はスペクトルではありません。その後、装置のコンピューターは、高速な数学的アルゴリズムであるフーリエ変換を実行し、干渉図をなじみのあるIRスペクトル(吸光度対波数(周波数)のプロット)に変換します。

FT-IRが現代の標準である理由

FT-IR分光計は、いくつかの重要な理由、しばしば「FTの利点」と呼ばれるものにより、従来の分散型装置を完全に置き換えました。

フェルゲットの利点(多重化の利点)

FT-IR分光計は、すべての周波数の光を一つずつスキャンするのではなく、同時に測定します。これにより、完全なスペクトルを数秒で取得でき、特定の測定時間に対する信号対雑音比が劇的に向上します。

ジャキノーの利点(スループットの利点)

分散型装置は、単一の波長を選択するために狭いスリットを必要とし、これにより光源からの光のほとんどが遮断されます。FT-IRにはそのようなスリットがなく、より高い強度の光(スループット)が検出器に到達できます。これにより、信号対雑音比がさらに向上します。

コーンズの利点(波長精度)

FT-IR分光計には、内部波長校正標準としてヘリウムネオン(HeNe)レーザーが含まれています。装置はレーザーの正確な単一周波数信号を使用して、可動ミラーの正確な位置を常に把握し、非常に高い波数精度と精密さを実現します。

実用的な限界の理解

強力ではありますが、FT-IR分光計は魔法の箱ではありません。客観的な分析には、その限界を認識することが必要です。

大気干渉に対する感度

空気中の水蒸気と二酸化炭素は強い赤外線吸収を示します。これらはサンプルのスペクトルと重なり合い、重要なピークを不明瞭にする可能性があります。このため、多くの装置は、大気干渉を除去するために乾燥窒素または乾燥空気でパージされます。

サンプル調製が鍵

IRスペクトルの品質は、サンプルの調製方法に大きく依存します。厚すぎるサンプルはすべての光を吸収し、KBrペレットのような不適切なサンプル混合は歪んだスペクトルを生成します。サンプルが不適切に調製されている場合、装置の性能は関係ありません。

解釈には文脈が必要

IRスペクトルは分子の「指紋」です。特定の官能基(例:C=O、O-H、N-H結合)の存在を特定するのに優れています。しかし、未知の完全な分子を特定するには、既知の化合物のライブラリとスペクトルを比較したり、補完的な分析技術を使用したりすることがよくあります。

目標に応じた適切な選択

FT-IRの原理を理解することで、特定の分析課題に効果的に適用できます。

  • 化合物の官能基の特定が主な焦点である場合: FT-IRは理想的なツールであり、存在する化学結合の明確かつ迅速な指紋を提供します。
  • 定量分析が主な焦点である場合: FT-IRの高い精度と信号対雑音比を活用して、ベール・ランバートの法則を適用し、混合物中の成分の濃度を測定します。
  • 品質管理が主な焦点である場合: FT-IRを使用して、製造サンプルのスペクトルを信頼できる参照標準と迅速に比較し、材料の同一性と一貫性を検証します。

その主要コンポーネントと原理を把握することで、FT-IR分光計は複雑な機械から、化学分析のための直感的で強力なツールへと変貌します。

要約表:

コンポーネント 機能 主な特徴
IR光源 広帯域赤外光を発する 加熱されたセラミック素子(例:グローバー)
干渉計 干渉パターン(干渉図)を生成する ビームスプリッター、固定ミラー、可動ミラー
サンプルコンパートメント 分析用のサンプルを保持する 光が通過し、特定の周波数が吸収される
検出器&コンピューター 光強度を測定し、フーリエ変換を実行する 干渉図を使用可能なスペクトルに変換する

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