ラボで使用される分析技術には幅広い手法があり、それぞれが特定の分析タイプやサンプル特性に適している。これらの技術は、元素分析、粒度分析、および分光法のための試料前処理に大別される。
元素分析
研究室では、ワークピースの直接元素分析に、発光分光分析（OES）やレーザー誘起ブレークダウン分光分析（LIBS）などの技術を使用することがよくあります。これらの方法は、大規模なサンプル前処理を必要としませんが、卓上型蛍光X線分析装置と比較すると分析能力に限界があります。さらに、ワークピースに目に見えるマークが残ることがあり、利便性にもかかわらず欠点となることがあります。粒子径分析：
粒子径および粒子分布の測定は、多くの分析および工業プロセスにおいて非常に重要です。一般的な方法には、ふるい分析、直接画像分析（静的および動的）、静的光散乱（SLS）、動的光散乱（DLS）などがあります。例えば、ふるい分析は、125 mmから20 μmまでの固体粒子を測定できる伝統的な方法です。この方法は、必要なふるいサイズ、サンプルサイズ、試験時間、期待される結果を詳述した数多くの国内および国際規格で規定されています。
分光法のための試料調製：
フーリエ変換赤外分光法（FTIR）や蛍光X線分析（XRF）などの分光分析では、試料の前処理が不可欠です。プレスド・ペレット法のような手法では、微粉砕した少量の固体試料を臭化カリウムと混合し、油圧プレスを用いて薄く透明なペレット状に圧縮します。この前処理により、試料の物理的形状による干渉を受けることなく、試料を分析することができる。
装置と材料
