技術チーム · Kintek Solution

粒子径を決定する4つの方法

1. ふるい分析:これは粒度分布を測定するために使用される伝統的な方法です。固体粒子のサンプルを、メッシュサイズが徐々に小さくなる一連のふるいに通します。サンプルは機械的に振られ、小さな粒子はメッシュを通過し、大きな粒子はふるいに保持されます。各ふるいを通過した物質の量を測定・記録し、これを用いて試料の粒度分布を算出します。この方法は、125mmから20μmまでの粒子に特に有効です。

2. 直接画像分析（SIAおよびDIA）:この方法では、画像技術を使用して粒子を直接観察・分析します。静的画像分析（SIA）は静止状態の粒子の画像を取得し、動的画像分析（DIA）は運動中の粒子の画像を取得します。これらの方法は、粒子のサイズと形状を決定するために使用できる詳細な視覚データを提供します。従来のふるい分け方法では分析が困難な粒子に特に有効です。

3. 静的光散乱（SLS）またはレーザー回折（LD）:分散媒中の粒子による光の散乱を測定する方法です。レーザー光を試料に照射し、さまざまな角度で散乱する光を検出します。散乱光の強度とパターンから粒子のサイズを決定することができる。この方法は非侵襲的で、幅広い粒子径について迅速かつ正確な結果を得ることができます。

4. 動的光散乱 (DLS):準弾性光散乱（QELS）としても知られるこの方法は、懸濁液中の粒子のブラウン運動による散乱光強度の時間依存性変動を測定します。この揺らぎから粒子の拡散係数を決定し、これを用いて粒子径を算出することができます。DLSは、通常ナノメートル範囲の小さな粒子のサイズを測定するのに特に有用です。

これらの方法にはそれぞれ利点と限界があり、どの方法を選択するかは、粒子径範囲、試料の性質、希望する精度レベルなど、分析に求められる具体的な要件によって決まります。

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