粒度分布の測定方法
概要
粒度分布はさまざまな方法で測定できますが、ふるい分析は最も伝統的で一般的に使用されている手法の1つです。この方法では、メッシュサイズが徐々に小さくなる一連のふるいに試料を通し、各ふるいに保持された物質の重量を測定して分布を求めます。
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詳しい説明
- ふるい分析手順
- ふるい分析では、異なるメッシュサイズのふるいを積み重ねます。試料はメッシュサイズが最も大きい一番上のふるいに載せます。後続のふるいはメッシュサイズが小さくなります。その後、スタックを機械的に振り、粒径に応じたふるいを通過させます。各ふるい上に保持された材料を計量し、各サイズの粒子の割合を決定する。装置と標準：
- ふるい分析はASTMやISOのような組織によって標準化されており、ふるいサイズ、試験手順、合格基準に関する詳細なガイドラインが定められています。正確な結果を得るためには、定期的なメンテナンスとふるいの校正が重要です。アプリケーション
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この方法は、鉱物、土壌、化学物質、農産物などの粒状物質を扱う産業で広く使用されています。
- その他の方法直接画像分析（SIAおよびDIA）：
- これらの方法では、粒子の画像を撮影し、それを分析してサイズと形状を決定します。静的画像分析（SIA）は1枚の画像を撮影し、動的画像分析（DIA）は動いている粒子の画像を撮影します。光散乱技術（SLSとDLS）：
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レーザー回折（SLS）と動的光散乱（DLS）は、サブミクロンからミリメートルまでの粒子径測定に使用されます。SLSは粒子によって散乱された光の回折パターンを測定し、DLSは粒子の動きによって生じる光散乱の変動を測定します。
- サンプルの調製と分析準備ステップ：
- ふるい分けを行う前に、試料の乾燥、調整、分割などの準備が必要な場合があります。ふるいの選択とサンプルの量は、材料と適用される規格に基づいて決定されます。分析ステップ：
ふるい分け工程の後、各ふるいに保持されたフラクションの重量を測定し、質量ベースの分布を計算します。このデータにより、試料の粒度分布を詳細に把握できます。結論
ふるい分析は、粒度分布を測定するための基本的な手法であり、さまざまな材料に対して簡単で効果的なアプローチを提供します。画像分析や光散乱のような他の高度な技術は、特に微細な粒子や研究環境において、さらなる機能を提供します。どの手法を選択するかは、材料の特定の要件と、粒度分布測定に求められる詳細レベルによって決まります。
